PL譜圖分析方法
PL譜圖,即光致發(fā)光光譜(Photoluminescence Spectroscopy)圖,是一種利用物質(zhì)在光的激勵下所產(chǎn)生的熒光特性來分析其成分和結(jié)構(gòu)的技術(shù)。以下是對PL譜圖的分析方法:
一、基本原理
光致發(fā)光過程:物質(zhì)在光的激勵下,電子從價帶躍遷至導(dǎo)帶,并在價帶上留下空穴。電子和空穴的復(fù)合將導(dǎo)致光致發(fā)光,進而形成不同波長光的強度或能量分布的光譜圖。復(fù)合可以是輻射復(fù)合(即發(fā)光),或者非輻射的表面復(fù)合、俄歇復(fù)合和發(fā)射多聲子的復(fù)合。
PL譜圖的構(gòu)成:PL譜圖主要包括激發(fā)光譜(PLE)和發(fā)射光譜(PL)。固定發(fā)射光的波長,改變激發(fā)光的波長,記錄熒光強度隨激發(fā)波長的變化,得到激發(fā)光譜;固定激發(fā)光的波長,改變發(fā)射光的波長,記錄熒光強度隨發(fā)射波長的變化,得到發(fā)射光譜。
二、分析方法
樣品制備:將待測樣品研磨并均勻分散在石英玻璃片上,制作成裝有樣品的模具。確保樣品制備過程中不引入雜質(zhì),且樣品的透光性和表面平整度良好,以降低對PL光譜信號的影響。
儀器設(shè)置:將樣品放置在熒光固體支架上,并調(diào)整儀器參數(shù),如激發(fā)波長、發(fā)射波長范圍、狹縫寬度、電壓等。確保儀器處于正常工作狀態(tài),并選擇合適的測量模式。
數(shù)據(jù)采集:啟動儀器進行光譜掃描,采集PL譜圖數(shù)據(jù)。注意記錄測量過程中的環(huán)境條件,如溫度、濕度等,以消除環(huán)境因素對測量結(jié)果的影響。
數(shù)據(jù)分析:
光譜特性分析:觀察PL譜圖的形狀、峰值位置、峰強度等特征,分析樣品的光譜特性。
組分測定:對于三元系或四元系合金等半導(dǎo)體材料,可以通過PL峰位確定半導(dǎo)體材料的禁帶寬度,進而確定材料組分。
雜質(zhì)識別與濃度測定:通過光譜中的特征譜線位置識別材料中的雜質(zhì)元素,并測定其濃度。
缺陷分析:研究PL譜圖中的異常峰或峰位偏移等現(xiàn)象,分析樣品中可能存在的缺陷類型及其影響。
三、注意事項
激發(fā)光源的選擇:激發(fā)光源的波長和強度應(yīng)根據(jù)樣品的特性進行選擇,以確保獲得清晰、準(zhǔn)確的PL譜圖。
環(huán)境因素的影響:在測量過程中,應(yīng)嚴(yán)格控制環(huán)境條件,如溫度、濕度等,以避免環(huán)境因素對測量結(jié)果的影響。
儀器校準(zhǔn)與維護:定期對儀器進行校準(zhǔn)和維護,確保儀器的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。
數(shù)據(jù)分析的嚴(yán)謹(jǐn)性:在數(shù)據(jù)分析過程中,應(yīng)充分考慮各種因素的影響,如樣品的制備質(zhì)量、測量條件的變化等,以確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
綜上所述,PL譜圖分析方法是一種有效的物質(zhì)成分和結(jié)構(gòu)分析手段。通過合理的樣品制備、儀器設(shè)置、數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)分析步驟,可以獲得準(zhǔn)確可靠的PL譜圖信息,為科學(xué)研究和技術(shù)應(yīng)用提供有力支持。